HID高精度電子分析天平(電磁力)
HID高精度電子分析天平專為高精度測量設計,具備業界領先的精度,適用於科學研究、分析化學和品質控制等多個領域。 適用於科學研究分析化學和品質控制等領域,對重量的微小變化提供高靈敏度的響應。 讀數精度從0.1公克到0.0001公克,非常適合密度測定、樣品製備、差分秤重與配方等應用為專業用戶提供穩定可靠的使用體驗。
- 高精度測量
- 測量精度達0.0001公克,確保每次測量的準確性,對微小變化提供靈敏回應。
- 廣泛應用
- 適合用於密度測定、樣品製備、差分秤重及配方等專業應用,滿足專業用戶的需求。
- 先進的感應技術
- 配備磁浮式電磁力感應器,具備鑄鋁外殼和玻璃防風罩,保證環境穩定性。
- 方便的數據管理
- 支援USB隨身碟資料儲存,能將測量記錄輕鬆導出至EXCEL進行分析和保存。
- 上下限警示功能
- 內建檢重上下限及聲音警示功能,實時監控測量結果,減少誤差風險。
- 動態稱重功能
- 提高在不穩定狀態下的秤重精度,減少因物體運動引起的測量誤差。
- 百分比秤重功能
- 可定義某特定重量為基準,並將其他重量顯示為該基準的百分比形式,方便計算和比較。
- 多單位轉換
- 支援公克、克拉、台兩等多種秤量單位,滿足不同需求。